大豆表型检测系统

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    大豆表型检测系统

    大豆表型检测系统

    • 产品名称:大豆表型检测系统

    • 发布日期:2024-03-04
    • 在线询价
    详细介绍

    大豆表型检测系统

    型号:DF-DBX

    大豆表型检测系统功能特点:

    1、一体式连接:压板和转轴柄一体式连接,方便固定作物茎部,减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。

    2、拍照识别自动去杂质:成像清晰,数粒准确。

    3、数粒速度快:1000粒以d'd'd'd'd'd识别只需1秒。

    4、数粒范围广:种子范围能测10粒以上,8000粒以下的种子。

    5、自动换成千粒重:可通过识别的种子粒数,输入重量,可自动换算出千粒重。

    6、高度不固定:不限制用户拍照的高度,操作简单,使用方便。

    7、比例尺自动矫正:任意手机可拍照,且拍摄成像视角可以被自动矫正,避免了拍照变形误差。

    dd8、智能修正:触摸屏幕可进行修正,使结果更精准,可达100%。

    9、数据查看:数据查看多样化,拍照分析后即可查看结sdddddddddddddddddd

    适用范围:

    1、大豆夹角适用于花芽分化期、开花结荚期、鼓粒期、成熟期进行测量;

    2、千粒重测量和种子计数系统几乎可以识别计数所有常见种子,包括玉米,水稻,小麦,大豆,油菜籽,花生,芝麻,绿豆,红豆,草籽等。

    测量范围和误差:

    大豆夹角测量范围0-180°,误差±5%

    大豆茎粗测量范围0-5.2cm,误差±1%

    千粒重测量误差:误差±2‰,修正后可达100%

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